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Tektronix采用NI TestStand软件开发兼容性测试套件

2007-08-28      嵌入式在线      收藏 | 打印

       Tektronix表示将采用美国国家仪器(National Instruments,NI)的NI TestStand测试管理软件,来发展自动接收、传输和相互连结的兼容性测试设计,以符合高速串行资料标准的测试架构。NI TestStand为一个开放且弹性的开发环境平台,能有效建立测试解决方案。

       Tektronix仪器结合了NI TestStand软件的开放特性,提供一个快速分析新产品特性的平台。由于信号能力受限于实体层,资料率的增强使得设计需要花费更多的心力。数种新研发的串行数据总线架构,包括PCI-Express、XAUI、RapidIO、HDMI和SATA,能够提供更大的资料产出率。Tektronix的测试解决方案能应付日益提高的复杂度。

       Tektronix将采用NI TestStand软件作为测试执行的引擎,此软件可协助用户开发并部署自动认证与制造测试系统。藉由与美商国家仪器的合作,Tektronix将能快速推广自动兼容性测试模块的产品上市。NI TestStand的模块架构,让Tektronix可利用它所提供的测试程序代码再使用功能和简单维护功能。
 
 
 
 
 

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