您的位置: 嵌入式在线 > 嵌业资讯 > 名企资讯 > 意法半导体 > 意法半导体上市可省略测试工序的加速度传感器

意法半导体上市可省略测试工序的加速度传感器

2008-05-05      嵌入式在线      收藏 | 打印

  意法半导体推出面向消费类电子产品的可省略测试工序的加速度传感器。厂商无需调整灵敏度和进行零g级别的校正即可使用。 

  加速度传感器有2轴产品“LIS244ALH”和3轴产品“LIS344ALH”两种。批量购买时的价格分别约为1.3美元和1.6美元。外形尺寸均为4mm×4mm×1.5mm,采用16引脚的LGA封装。能够检测±2g或者±6g范围内的加速度。工作温度范围为-40~+85℃,耐冲击性为1万g。主要面向以手机和多媒体播放器为主的消费类电子产品。 

  加速度传感器在安装之前,一般电子产品厂商要对其实施校正工序,而此次的传感器在ST进行校正后供货。另外还内置有自我检测功能,用于检测MEMS传感器部和信号处理电路能否在保证指标内准确工作。ST希望通过省去一直是电子产品厂商成本增加原因的测试工序,进一步扩大在消费类产品领域的接单量。

 

本文来源:    作者:
热点资讯(一周点击率)
热评博文
评一评已有 0 位网友对此文发表了看法。  我也来评一下

验证码:  看不清?换一张

 

快乐大本营

    无线时代来临,移动产业生态系统将发生一些根本变化。今日头条推荐“芯片是嵌入式4G技术的关键 产业生态系统将发生变化”。

    想了解嵌入式开发工具的市场情况吗?先来体验下我们的在线调查吧!填写调查问卷

工程师之星
朱礼昆
电子信息工程专业,擅长硬件编程
  • 胡菲菲  技术专长:嵌入式系统linux
  • 柳如峰  技术专长:模电,电源
热门招聘
论坛热贴